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校準不應與測量系統的調整及常錯誤

⒈校準可以用綜述、校準函數、校準圖、校準曲線或校準表格的形式表示。某些情況下，它可以包括對具有測量不確定度的示值的修正，加修正值或乘修正因子。

⒉校準不應與測量系統的調整及常錯誤稱作的“自校準”相混淆，鉑電阻計量校準，也不要與檢定相混淆。

⒊通常，計量校準實驗室，只把上述定義中的第1步認為是校準。

基本要求

校準應滿足的基本要求如下：

⑴環境條件 校準如在實驗室進行，則環境條件應滿足檢定規程/校準規范中要求的溫度、濕度等規定。校準如在現場進行，黃山計量校準，則環境條件以能滿足儀表現場使用的條件為準。

⑵儀器 作為校準用的標準儀器其誤差限應是被校表誤差限的1/3~1/10。

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儀器檢測不過，計量校準服務，盡管光學數碼化轉換器和掃描器市場潛力巨大，這種相對新穎的技術卻給業界的參與者帶來了很大的挑戰。在傳統的生產環境下，保守的終端用戶接受這種技術的速度較慢，在某些情況下，他們甚至認為坐標測量儀(cmm)探針是可以接受的可優先采用的方法。而且在為制造業利基市場服務時，為了適應實際應用的需要，需要對這種技術及其相關軟件進行定制，而市場參與者們常常會發現掃描解決方案的整合是很費時的。

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